Análise elementar de amostras de tintas e seus ingredientes sem amostras padrão, utilizando fluorescência de raios-X
CONFIGURAÇÃO
Modelo: NEX QC+ QuantEZ com FP
Excitação: direta com filtros
Tubo de raios-X: 4 W Ag-ânodo`
Detetor: SDD (Silicon Drift)
Atmosfera: Hélio
Filme: Prolene, 4 μm
Amostrador: 6 posições, automático
Anel de janela plana para amostras sólidas a granel.
Preparação de amostra: prensa de compactação manual
Tempo de análise: 300 segundos
PREPARAÇÃO DA AMOSTRA
Para as amostras líquidas e em pó, 4 gramas de cada amostra foram pesados num copo com filme Prolene de 4 μm. As amostras de pó sólido foram compactadas manualmente sob pressão antes de serem analisadas. As amostras de tinta líquida foram bem agitadas antes da amostragem. Amostras sólidas e redondas foram analisadas diretamente sobre o anel da janela plana.
METODOLOGIA
O método de Parâmetros Fundamentais (FP) RPF-SQX foi desenvolvido para estimar a concentração elementar. O método usa o programa FP avançado que apresenta automaticamente os picos espectrais e modela a matriz de amostra usando equações XRF fundamentais.
O modelo de pó padrão foi usado para amostras de pó sólido, o modelo de pelotes para amostras de grânulos e blocos e o modelo de óleo foi usado para amostras de tinta e resina, para gerar os seguintes resultados.